实验，使用按照

示意图，如图1所示，记录静电计的电荷读数

研究中的晶体经过温度循环。在进行一套

测量时，静电计的测试探针在特定温度下接地

低于居里温度的晶体。探针电路中的电荷，符号相反

在这个温度下，晶体的极化电荷会被吸引到

晶体表面附近。当地面断开时，静电计读数

但是探针中有一个感应电荷，被极化电荷俘获

电路。当晶体的温度改变时，静电计的读数就会反映出来

极化电荷相对于入射端极化电荷的变化

接地温度。

在图2中，施加到具有厚度的LiNbO3晶体的温度循环

1.000±0.001 mm和底座，5.351±0.003 mm x 3.811±0.001 mm，以及

静电计的响应显示为三种不同接地方式的时间函数

温度。对于呈现的五个热循环，温度从

大约100度

C至-110o

C.图2（a）的数据是在静电计之后获得的，

接在-z基座上，在大约100度处接地

C.可以看到电荷读数

静电计的测量结果表明表面的极化电荷

代数上较小，即负极化电荷量随着

温度从100度降下来

C.这种解释，即否定量

在-z基电荷随着温度的降低而增加，这是基于以前的理论

研究2

从-z基发射的电子在衰减过程中产生x射线的过程

温度。

实验结果在静电计探头安装完成后进行

在0℃左右的晶体温度下接地

C在图2（b）中表示。可以看出

极化电荷在代数上更高，即负电荷的量

当温度升高到0o以上时下降

随着温度的降低

0o以下

C极化电荷以代数方式减少，即负电荷量减少

充电增加。

如图2（c）所示，数据是在静电计探头

在-110℃左右的结晶温度下接地

随着晶体温度的升高

110度以上

C静电计的电荷读数在代数上变得更高，即。，

负极化电荷减少。

从图2可以看出，对于每个接地选择，静电计

五个热循环的响应似乎是可重复的。但对于一个特定的

温度-三个接地选择的电荷读数不同。

另外还进行了一些实验，测量了样品表面的极化电荷

+LiNbO3晶体的z基随温度的变化而变化。结果

对于三种不同的接地条件，如图3所示。从这些结果来看

x射线2产生的实验分析

结论是

在晶体的+z基部，在一定温度下有少量的正极化电荷

结晶温度100o

随着晶体温度的降低

正极化电荷增加，即代数增加。这是事实

对于所有三个调零选择，尽管电荷读数在一段时间内有很大的不同

三个接地过程中的具体温度。

4

对于温度

范围为100度

C至-150o

数据取自晶体的-z基，即1.000

厚度为±0.001，底座为4.250±0.001 mm×3.101±0.001 mm，如图所示，

4（a）、（b）和（c），其中晶体的接地温度约为100℃

C、 关于

0度

C和-150o

分别为C。五个热循环的电荷读数

接地情况表明极化电荷呈代数下降，即

随着晶体温度的升高，负极化电荷量增加

降低。在+z基上对应的五个热响应的表示

循环如图5所示。

如果只进行无花果代表的实验。2（b）、3（b）、4（b）

和5（b），即静电计探针在约0℃的晶体温度下归零

C一

可能会说极化电荷在单调过程中改变了符号

温度的变化。然而，这一系列的实验是用三种不同的方法进行的

接地选择与x射线研究得出的推论相结合2

表明

对于极化电荷的单调变化，可以作一致的论证

温度的单调变化。

上述一系列实验的工作假设是

一个ele