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对于温度
范围为100度
C至-150o
数据取自晶体的-z基，即1.000
厚度为±0.001，底座为4.250±0.001 mm×3.101±0.001 mm，如图所示，
4（a）、（b）和（c），其中晶体的接地温度约为100℃
C、 关于
0度
C和-150o
分别为C。五个热循环的电荷读数
接地情况表明极化电荷呈代数下降，即
随着晶体温度的升高，负极化电荷量增加
降低。在+z基上对应的五个热响应的表示
循环如图5所示。
如果只进行无花果代表的实验。2（b）、3（b）、4（b）
和5（b），即静电计探针在约0℃的晶体温度下归零
C一
可能会说极化电荷在单调过程中改变了符号
温度的变化。然而，这一系列的实验是用三种不同的方法进行的
接地选择与x射线研究得出的推论相结合2
表明
对于极化电荷的单调变化，可以作一致的论证
温度的单调变化。
上述一系列实验的工作假设是
静电计的探针电路中感应到一个电荷，它与电流相反
晶体表面的极化电荷，其数量取决于
静电计接地的晶体温度。在地面之后
当连接断开时，静电计对极化电荷的变化作出反应
晶体对接地温度变化的响应
读出极化电荷相对于极化电荷的代数变化
在接地温度下。预计，尽管电荷读数在特定的
温度似乎是不同的三个归零温度的变化
对于给定的温度变化，三次调零的费用预计是相同的
条件。
数字数据，用于演示图。2，3，4和5进行了研究
探索这个期望。晶体-z基电荷读数的差异
表一中给出了选定温差下LiNbO3的计算公式
温度区间为，温度升高时，-100o
C至-50o
C、 -50度
C到0o
C、 0度
C级
至50度
C和50度
C至100o
温度降低时，100度
C至50度
C、 50度
C到0o
C级，
0度
C至-50o
C和-50o
C至-100o
C.表I中给出的数字代表平均值
每个接地温度的五个热循环的电荷变化值。
用平均值给出的精度度量代表了试验的再现性
五个热循环的结果。类似地，电池充电读数的变化
+计算了铌酸锂的z基，结果见表二。
在-z和+z碱基上的数据也进行了类似的处理
锂离子。结果见表三和表四。在这种情况下，温度
温度升高的时间间隔为-140o
C至-75o
C、 -75度
C至-25o
C、 -25度
C至25度
C级
和25度
C至90度
温度降低90度
C至25度
C、 25度
C至-25o
C级，
-25度
C至-75o
C和-75o
C至-140o
C。
从表一、表二、表三和表四可以看出
测量，电荷读数的变化，对于特定的温度变化和
温度变化的具体方向，与
静电计的晶体底座接地。表一在LiNbO3中，对于相同的温度区间50o，∆Q |是不同的
C、 在
不同的温度。同样，对于LiTaO3，在65°的温度区间
C、 |∆Q |是
表III和表IV所示的两种不同温度下的温度不同
间隔50o
两种不同温度下的C∆Q |不同。如前所述
工作6-10 |∆Q |和|∆T |之间的响应不是线性的。
进行了一个实验来观察电荷读数随温度的变化
晶体的温度保持不变。实验开始时，静电计探头
连接到一个水晶底座上，在0度左右被接地
C地面被打破后
温度上升到115度
并保持恒定约14小时。结果
如图所示。6号和7号。程序的开始如图6（a）所示，即
20秒后地面破裂，温度升高。电荷读数
在一个LiNbO3晶体的+z基上，27.5mm2
在另一个的-z底部
铌酸锂晶体，18.63mm2
1毫米，显示。14小时后
晶体的温度降低，如图6（b）所示。获得的结果
在14小时的恒温过程中，如图7所示，其中
温度和电荷读数每5秒记录一次。可以看出，在
在恒温期间，晶体上的电荷读数是恒定的。事实上
在5000秒至48000秒的时间间隔内，平均温度为115.6552±
0.0014度
在这期间，晶体的+z基极上的电荷读数是
（-1.23956±0.00005）x10-7 coul，在另一个晶体的-z基上电荷
读数为（1.00597±0.00007）x 10-7 coul。
电流读数装置将显示非零读数作为极化电荷
增加，图6（a）。电流读数的大小会随着电流的变化而变化
电荷的变化，即温度变化的速率。在
恒电荷，即恒温，如图7所示，电流读数为零。
然后当温度开始下降时，如图6（b）所示，导致温度的变化
极化电荷电流读数不是零，而是一个量级
随温度变化率而变化。值得注意的是，在某些类型的
晶体底部暴露于真空系统气体中的实验
当空间电荷中和极化电荷2时，电流降为零
. 在
有时气体和晶体之间的放电会部分中和晶体
极化电荷和电流读数将下降到零3，5。在合适的气体下
压力，放电将不会发生，电流与温度的曲线将
平滑的，即没有突然的变化。
上述两类实验结果与实验结果一致
推断LiNbO3和LiTaO3晶体在特定的晶体温度下
确定的极化电荷是晶体的可再现性质。 |
