对于温度

范围为100度

C至-150o

数据取自晶体的-z基，即1.000

厚度为±0.001，底座为4.250±0.001 mm×3.101±0.001 mm，如图所示，

4（a）、（b）和（c），其中晶体的接地温度约为100℃

C、 关于

0度

C和-150o

分别为C。五个热循环的电荷读数

接地情况表明极化电荷呈代数下降，即

随着晶体温度的升高，负极化电荷量增加

降低。在+z基上对应的五个热响应的表示

循环如图5所示。

如果只进行无花果代表的实验。2（b）、3（b）、4（b）

和5（b），即静电计探针在约0℃的晶体温度下归零

C一

可能会说极化电荷在单调过程中改变了符号

温度的变化。然而，这一系列的实验是用三种不同的方法进行的

接地选择与x射线研究得出的推论相结合2

表明

对于极化电荷的单调变化，可以作一致的论证

温度的单调变化。

上述一系列实验的工作假设是

静电计的探针电路中感应到一个电荷，它与电流相反

晶体表面的极化电荷，其数量取决于

静电计接地的晶体温度。在地面之后

当连接断开时，静电计对极化电荷的变化作出反应

晶体对接地温度变化的响应

读出极化电荷相对于极化电荷的代数变化

在接地温度下。预计，尽管电荷读数在特定的

温度似乎是不同的三个归零温度的变化

对于给定的温度变化，三次调零的费用预计是相同的

条件。

数字数据，用于演示图。2，3，4和5进行了研究

探索这个期望。晶体-z基电荷读数的差异

表一中给出了选定温差下LiNbO3的计算公式

温度区间为，温度升高时，-100o

C至-50o

C、 -50度

C到0o

C、 0度

C级

至50度

C和50度

C至100o

温度降低时，100度

C至50度

C、 50度

C到0o

C级，

0度

C至-50o

C和-50o

C至-100o

C.表I中给出的数字代表平均值

每个接地温度的五个热循环的电荷变化值。

用平均值给出的精度度量代表了试验的再现性

五个热循环的结果。类似地，电池充电读数的变化

+计算了铌酸锂的z基，结果见表二。

在-z和+z碱基上的数据也进行了类似的处理

锂离子。结果见表三和表四。在这种情况下，温度

温度升高的时间间隔为-140o

C至-75o

C、 -75度

C至-25o

C、 -25度

C至25度

C级

和25度

C至90度

温度降低90度

C至25度

C、 25度

C至-25o

C级，

-25度

C至-75o

C和-75o

C至-140o

C。

从表一、表二、表三和表四可以看出

测量，电荷读数的变化，对于特定的温度变化和

温度变化的具体方向，与

静电计的晶体底座接地。表一在LiNbO3中，对于相同的温度区间50o，∆Q |是不同的

C、 在

不同的温度。同样，对于LiTaO3，在65°的温度区间

C、 |∆Q |是

表III和表IV所示的两种不同温度下的温度不同

间隔50o

两种不同温度下的C∆Q |不同。如前所述

工作6-10 |∆Q |和|∆T |之间的响应不是线性的。

进行了一个实验来观察电荷读数随温度的变化

晶体的温度保持不变。实验开始时，静电计探头

连接到一个水晶底座上，在0度左右被接地

C地面被打破后

温度上升到115度

并保持恒定约14小时。结果

如图所示。6号和7号。程序的开始如图6（a）所示，即

20秒后地面破裂，温度升高。电荷读数

在一个LiNbO3晶体的+z基上，27.5mm2

在另一个的-z底部

铌酸锂晶体，18.63mm2

1毫米，显示。14小时后

晶体的温度降低，如图6（b）所示。获得的结果

在14小时的恒温过程中，如图7所示，其中

温度和电荷读数每5秒记录一次。可以看出，在

在恒温期间，晶体上的电荷读数是恒定的。事实上

在5000秒至48000秒的时间间隔内，平均温度为115.6552±

0.0014度

在这期间，晶体的+z基极上的电荷读数是

（-1.23956±0.00005）x10-7 coul，在另一个晶体的-z基上电荷

读数为（1.00597±0.00007）x